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數顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C

數顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C

簡要描述:
數顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差 ≤±2.5%FS
重復性誤差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
長期漂移 ≤±2.5%FS。

產品時間:2020-09-03

訪問量:1130

廠商性質:生產廠家

生產地址:

數顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C 

性能特點
?精度高,穩定性好。
?檢測元件具有恒溫環境保證了儀器高穩定性,并使儀器更快的進入到正常工作狀態,減小了機內外溫度變化對其穩定性的影響。
?儀器在不工作時自動待機,有效的保護了光源,延長了光源的使用壽命。
?經濟耐用,可以在現場長期連續運行。
造型新穎美觀,使用操作方便

數顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C 
測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
基本誤差 ≤±2.5%FS
重復性誤差 ≤±0.5%FS
短期漂移 ≤±0.5%FS
長期漂移 ≤±2.5%FS

 

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